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北京信息科技大学购买剪切散斑干涉仪
发布时间:2018-11-20 点击次数: 362

   北京信息科技大学购买剪切电子散斑干涉仪用于测量位移导数。剪切电子散斑干涉术(ESPI)是继电子散斑干涉术后发展的一种测量位移导数的新技术。它与电子散斑干涉术不同的是在光学结构上,后续的图象处理系统是相同的。它除了电子散斑干涉术的许多优点外,还有光路简单,对振动隔绝的要求低等特点。另外,它测量的是位移导数,在自动消除刚体位移的同时对于缺陷受载的应变集中十分灵敏,因此被广泛地应用于无损检测(NDT)领域 。

 
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