北京信息科技大学购买剪切电子散斑干涉仪用于测量位移导数。剪切电子散斑干涉术(ESPI)是继电子散斑干涉术后发展的一种测量位移导数的新技术。它与电子散斑干涉术不同的是在光学结构上，后续的图象处理系统是相同的。它除了电子散斑干涉术的许多优点外，还有光路简单，对振动隔绝的要求低等特点。另外，它测量的是位移导数，在自动消除刚体位移的同时对于缺陷受载的应变集中十分灵敏，因此被广泛地应用于无损检测（NDT）领域 。